Rambler's Top100 МИКРОЭЛЕКТРОНИКА МИФИ
Home
контакты
студенческий сайт
письмо администратору сайта
преподаватели конференции/сессии научные группы абитуриентам форум о кафедре учебные курсы
Кафедра микроэлектроники №27 Московского Инженерно - Физического Института (ГУ)
ПОИСК

новости
преподаватели
конференции/сессии
научные группы
абитуриентам
форум
о кафедре
учебные курсы
библиотека
выпускники
для сотрудников

Научная группа
"Радиационная Надежность Интегральных Микросхем"
        В начале 1967 года на кафедре Микроэлектроники МИФИ основано научное направление "Радиационная стойкость МОП интегральных микросхем".

История группы

Публикации

Фотографии

Жизнь в свободное время

      СОСТАВ ГРУППЫ

      Попов Виктор Дмитриевич, профессор, д.т.н. - руководитель, посмотреть
      Белова Галина Федоровна, доцент, к.т.н.,
      Кузнецов Андрей Сергеевич, аспирант,
      Протопопов Григорий Александрович, аспирант.

      ОПИСАНИЕ ДЕЯТЕЛЬНОСТИ НАУЧНОЙ ГРУППЫ.

      В настоящее время проводятся исследования влияния радиационного воздействия на процесс старения интегральных микросхем и изучается проблема применения радиационно-термической обработки для отбраковки интегральных микросхем в корпусах с аномально низкой надежностью и радиационной стойкостью. Эти работы вызваны необходимостью применения коммерческих микросхем в аппаратуре специального назначения (Попов В.Д. Проблемы и возможности применения коммерческих интегральных схем в военной и космической технике. // Chip News. 1999. №5. С.28-32).
      Группа проводит научно-исследовательские работы в интересах Федерального Космического Агентства и связана с НИИ космического приборостроения и НПО имени С.А.Лавочкина. Результаты научных работ используются при разработке бортовых микроэлектронных устройств космических аппаратов (Гобчанский О., Попов В., Николаев Ю. Повышение радиационной стойкости индустриальных средств автоматики в составе бортовой аппаратуры. // СТА. Современные технологии автоматизации. 2001. №4. С.36-40 и Кузнецов Н.В., Попов В.Д., Хамидуллина Н.М. Оценка вероятности радиационных отказов и одночастичных сбоев интегральных микросхем на борту космического аппарата ФОБОС-ГРУНТ.// Космические исследования. 2005. Том 43. №3. С.237-239).
      Помимо аспирантов в научных исследованиях активно участвуют студенты старших курсов в рамках НИРС, практики и дипломного проектирования. На научной сессии МИФИ-2006 студентами представлены 3 стендовых доклада.

      ПЕРСПЕКТИВЫ НА БУДУЩЕЕ

      Планируется развитие работ по исследованию отказов отдельных элементов сверхбольших интегральных микросхем при попадании в них отдельных частиц высоких энергий космических лучей.

      КОНТАКТНАЯ ИНФОРМАЦИЯ

      Руководитель научной группы
проф. Виктор Д. Попов
      Тел.: (095)323-9068
      Факс: (095)324-2111
      E-Mail wdpopov@mail.ru
    Copyright © 2005 micro.ax-09.ru
Все права на статьи, фотографии, иные материалы принадлежат micro.ax-09.ru и охраняются законом. Воспроизведение в любой форме в целом или в части каких-либо статей, фотографий, учебных или иных материалов разрешается с ОБЯЗАТЕЛЬНОЙ ССЫЛКОЙ на micro.ax-09.ru
Design & coding by www.ICY.ru . Programming by Goryny4, www.kibab.com, Warlike. Hosting by LEVEL SEVEN
    Copyright © 2005 micro.ax-09.ru
Rambler's Top100